Испытательная лаборатория Общества с ограниченной ответственностью «ТИКСОМЕТ»

Казаков Александр Анатольевич руководитель лаборатории
Наименование лаборатории:
Испытательная лаборатория Общества с ограниченной ответственностью «ТИКСОМЕТ»
Руководитель лаборатории:
Казаков Александр Анатольевич
Наименование организации:
Общество с ограниченной ответственностью «ТИКСОМЕТ»
Регион:
г. Санкт-Петербург
Юридический адрес:
Россия, 194292, г. Санкт-Петербург, ул. Верхняя, д. 8, лит. А
Фактический адрес:
195251, Санкт-Петербург, Политехническая, 29
Телефон:
+7 (812) 552-60-79
URL:
http://www.thixomet.ru
E-mail:
kazakov@thixomet.com
Испытательные возможности

Объекты испытаний (измерений)

Характеристики (показатели) объекта испытаний (измерений)

Испытательное оборудование и средства измерений

Стали и сплавы конструкционные (углеродистые, низколегированные, легированные, высоколегированные, коррозионно-стойкие, жаростойкие, жаропрочные)

Стали инструментальные.

Сварное соединение

Размер зерна

Загрязненность неметаллическими включениями

Микроструктурная полосчатость

Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 200MAT

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot 300

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot TME

Системы анализа изображений для задач металлографии и материаловедения Thixomet Lite, Thixomet Pro, Thixomet SmartDrive

Макроструктурный анализ

Доля вязкой составляющей на изломах

Стереоскопический микроскоп Meiji Stereo RZ

Стереоскопический микроскоп Meiji EMZ

Элементный состав

Оптико-эмиссионный спектрометр Spectro Specromaxx F

Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 55 VP

ЭДСспектрометр Oxford Instruments Aztec X-Max 80

Газовый анализ

Газоанализатор Eltra ON900

Микро- и макротвердость

Твердомер Buehler 6040

Чугуны

Определение шаровидности графита

Определение микроструктуры

Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 200MAT

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot 300

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot TME

Системы анализа изображений для задач металлографии и материаловедения Thixomet Lite, Thixomet Pro, Thixomet SmartDrive

Покрытия (никелирование, хромирование, лужение) и слои (науглероженные, обезуглероженные, азотированные) на металлах

Определение толщины

Определение элементного состава

Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 200MAT

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot 300

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot TME

Системы анализа изображений для задач металлографии и материаловедения Thixomet Lite, Thixomet Pro, Thixomet SmartDrive

Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 55 VP

ЭДСспектрометр Oxford Instruments Aztec X-Max 80

Сплавы из цветных металлов

Определение микроструктуры

Определение загрязненности неметаллическими включениями

Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 200MAT

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot 300

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot TME

Системы анализа изображений для задач металлографии и материаловедения Thixomet Lite, Thixomet Pro, Thixomet SmartDrive

Порошковые материалы

Изделия порошковой металлургии

Гранулометрический анализ

Выявление и определение микроструктуры

Инвертированный металлографический микроскоп Zeiss Axiovert 200MAT

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot 300

Инвертированный металлографический микроскоп Nikon Epiphot TME

Системы анализа изображений для задач металлографии и материаловедения Thixomet Lite, Thixomet Pro, Thixomet SmartDrive

Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 55 VP

ЭДСспектрометр Oxford Instruments Aztec X-Max 80

Наноструктурированные материалы

Структура. Элементный состав. Наличие дефектов и неоднородностей.

Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 55 VP

ЭДСспектрометр Oxford Instruments Aztec X-Max 80

Поверхность изделий наноиндустрии

Структура. Элементный состав.

Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 55 VP

ЭДСспектрометр Oxford Instruments Aztec X-Max 80

Покрытия поверхности изделий наноиндустрии

Структура. Элементный состав. Механические характеристики

Наличие дефектов и неоднородностей.

Сканирующий электронный микроскоп Zeiss Supra 55 VP

ЭДСспектрометр Oxford Instruments Aztec X-Max 80

Вернутся в список